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涂層薄膜介電常數測試儀

型 號GDAT-C

更新時間2024-11-24

廠商性質生產廠家

報價

產品描述:涂層薄膜介電常數測試儀測試項目:介電常數、介質損耗、介質損耗因數、介質損耗角正切值

使用人群:科研所、教學、質量監(jiān)督局、單位等

付款方式:全款發(fā)貨

產品概述

涂層薄膜介電常數測試儀符合標準:GB/T1409、GB/T5594產品用途:固體、液體絕緣材料的介電常數及介質損耗測試適用材料:橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等測試范圍:10KHZ-70MHZ、100KHZ-100MHZ主要配置:主機Q表、夾具、電感組成涂層薄膜介電常數測試儀Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;電感測量范圍:自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能4.5nH-100mH 分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。電容直接測量范圍:1~460pF   主電容調節(jié)范圍: 30~500pF   電容準確度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%   型號頻率指示誤差:1*10-6 ±1    Q值合格指示預置功能范圍:5~1000GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法》(等效IEC 60250:1969)以及GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法》或其他相關標準中要求在高頻下測試絕緣材料介電常數和介質損耗因數的產品。

Q值自動鎖定,無需人工搜索Q表正常工作條件

a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃

b.相對濕度:<80%;

c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

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概述介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至Z低,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

維修保養(yǎng)

1.新購儀器的檢查

新購的儀器能先用LKI-1電感組,將各個電感在各個不同頻率測試Q值,把測試的情況,例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環(huán)境條件逐一詳細記錄,并把記錄保存起來,以供以后維修時作參考。

LKI-1電感組是測試時作輔助電感用的,不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著測試環(huán)境條件不同,測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。

2.使用和保養(yǎng)

高頻Q表是比較精密的阻抗測量儀器,在合理使用和注意保養(yǎng)情況下,才能保證長期穩(wěn)定和較高的測試精度。

a.熟悉本說明書,正確地使用儀器;

b.使儀器經常保持清潔、干燥;

c.本儀器保用期為18個月,如發(fā)現機械故障或失去準確度,可以原封送回本廠,免費修理。


本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,或者作為定期檢查,要檢測以下幾個指標:

1.    平板電容器二極片平行度不超過0.02mm。

2.    園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。

3.    保證二個測微桿0.01mm分辨率。

4.    用精密電容測量儀(±0.01pF分辨率)測量園筒電容器,電容呈線性率,從0~20mm,每隔1mm測試一點,要求符合工作特性要求。

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